JSM-IT200扫描电子显微镜,是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。用来测定样品微观形貌结构,可测样品:土壤、水、金属、岩矿、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多种样品,
JSM-IT500扫描电子显微镜,是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。用来测定样品微观形貌结构,可测样品:土壤、水、金属、岩矿、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、医疗器械,保健品等多种样品。
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